先端材料技術研究センター

分析機器
三次元カラーレーザー顕微鏡 キーエンス
集束イオンビーム加工観察装置 （FIB） 日本ハイテクノロジーズ
走査型透過電子顕微鏡 （STEM） 日本ハイテクノロジーズ
電子スピン共鳴装置 日本電子
三次元電子顕微鏡 （ 3 -D SEM） エリオニクス
オージェ電子分光分析装置 （AES） 日本電子
電子プローブマイクロアナライザー （EPMA） 日本電子
X線解析装置 （XRD） リガク
ラウエX線カメラ （LXC） リガク
X線応力アナライザー （XSA） リガク
蛍光X線アナライザー （FXA） リガク
走査プローブ顕微鏡 （SPM） 日本電子
（ナノインデーション機能含む）
レーザーラマン分光分析装置 （RSL） 日本分光
低真空型走査型電子顕微鏡 （SEM） 日本電子
炭素・硫黄アナライザー （C・SA） 日製産業
　
試験機・研究教育設備
マイクロヌープ・マイクロビッカース硬度計 島津製作所
示差熱分析装置 リガク
高温摩擦摩耗試験機 ナノテック
スクラッチ試験機 ナノテック
50トン リレー式万能試験機 島津製作所
10トン ネジ式万能試験機 テンシロン
電気油圧式疲労試験機 東京衡機製作所
小野式回転曲げ疲労試験機 東京衡機製作所
超微小硬度計 エリオニクス
ロックウェル硬度計 明石製作所
ビッカース硬度計 明石製作所
マイクロビッカース硬度計 明石製作所
膜厚測定器 ナノテック
倒立型金属顕微鏡 オリンパス
超音波探傷装置 日立建機
先端材料技術研究センター　研究教育設備に関するお問い合わせ
TEL.0480-34-4111(代表)
 (月～土、9：00～17：00)
FAX. 0480-34-2941