日本工業大学の研究拠点および産学コラボレーション拠点として 大学・企業のニーズに対応した技術支援を行っています

• 学内の教員ならびに学生に対する研究・技術支援
• 産学コラボレーション・地域技術支援
• 実験教育・実地訓練

　自然科学には未知の領域を探るとともに、エネルギー・環境など様々な現代社会の問題に答えていくことが期待されている。このような課題に総合的・創造的に取り組める人材を育てることこそが最も大切な大学の使命であると考える。そのような中、当学における建学の精神に基づく教育研究は、学部生・院生・教職員の活動の拡大や大学教育の高度化を促し、これが大学活性化のエンジンとなって今日の地位を確立してきた。今後も日本工業大学の教育研究を活力あるものにしていくためには、今まで以上に技術研究の質と生産性を持続的に向上させていかなければならない。この課題を達成するためには、当センターの全学共通利用設備の効果的な活用およびそれらの充実と拡大を図り、日本工業大学の得意な分野がその強みをますます発揮できるように、成長の機会を見出していくことが必要である。

　自然科学は「理論」と「実験」を両輪とするが、高度な「実験」的自然科学教育・研究は、それを支える高性能の分析・測定機器がなければ実際に遂行することはできない。これらの機器を整備するには、十分な設置スペース、多大な経費も必要である。そこで、当センターでは様々な分析機器・装置を導入し、その維持も含め管理を行いつつ、新しい解析技術の開拓や使用方法の高度化などに取り組んでいる。そして、その効率的利用を図る教育・研究の支援センターとして、学内で利用される教員や学生の教育・研究に広く開放し、装置使用の利便性を積極的に図ってきている。そのため利用講習会や分析技術の指導講習会などを随時開催し、毎年多くの卒業研究生や大学院生が参加している。さらに学外にも門戸を開き、分析方法・装置の選定などの技術相談や依頼測定などの技術支援も行ってきている。

　近年、最先端の研究を実践するためには、複数の高性能分析機器の測定を必要とすることが多くなり、分析装置の整備や、先端解析技術を有する人材育成の重要性はさらに大きくなってきている。今後も、本学教員や学生のみならず、学外の方の利便性向上に取り組むとともに、現有設備のさらなる有効利用の促進と質的な向上を図っていきたいと考えている。

• • カラー３次元形状測定レーザ顕微鏡
  • 走査プローブ顕微鏡(SPM)
  • オージェ電子分光分析装置(AES)
  • X線光電子分光分析装置(XPS)
  • 低真空型走査電子顕微鏡(SEM)
  • 走査型透過電子顕微鏡(STEM)
  • ラマン分光分析装置
     
• • 集束イオンビーム加工機(FIB)・イオン顕微鏡
  • Ｘ線回折装置(XRD)
  • 各種熱分析装置（TMA・TG-DTA・DSC）
  • 各種ナノ・マイクロ硬度計
  • 蛍光Ｘ線分析装置（XRF）
  • フーリエ変換赤外分光光度計（FT/IR）
  • 100kN万能試験機
     

• 

  走査型透過電子顕微鏡(STEM)
  Scanning Transmission Electron Microscope

   

• 

  X線光電子分光分析装置(XPS)
   X-ray Photo-electron Spectroscopy

   

• 

  X線回折装置(XRD)
  X-ray Diffraction

   

• 

  走査型電子顕微鏡(SEM)
   Scanning Electron Microscope

   

• 

  集束イオンビーム加工観察装置(FIB)
   Focused Ion Beam

   

• 

  オージェ電子分光分析装置(AES)
  Auger electron spectrometer